測試項目：
§ 封裝與晶圓錫球接點的開短路測試。
§ IC內部的開短路測試。
§ IC 內的保護二極體測試。
§ Pin to Pin 、Pin to GND 、Pin to VCC 阻抗比對測試。
§ Pin to Pin 、pin to GND 、Pin to VCC 電容比對測試。
§ ＩＣ載板上元器件值的測試 。
§ 對ＩＣ上電，測試關鍵點的電壓，來檢測內部功能。
§ 通用ＧＰＩＢ擴展來量測ＩＣ關鍵點波形，頻率等參數。
系統規格
測試點數:
標準配備:320點
大型主機:可以擴充至4096點
測試項目:
測試步驟:300000setp
測試時間:
開路/短路測試:每1000點約≤1Sec(Typical DUT)
測試範圍:
電阻: 0.01Ω至40MΩ
電容:0.1pF至10000uF
電感： 1.0uH至60H
二極管/三極管：0.1至9.99V
Zener Diode:標準0.1V至50.0V
功能測試： 0.00V至50V
軟體系統： "支持winxp,win2003,winvisat/多語言"
